Автоматическая высокотемпературная вакуумная установка для выращивания слитков полупроводникового карбида кремния

Предназначена для получения слитков полупроводникового карбида кремния с низкой плотностью дефектов

Области применения

Производство полупроводниковых приборов силовой, высокочастотной, радиационно-стойкой электроники, функционирующей в экстремальных условиях эксплуатации

Конкурентные преимущества

Стадия разработки

Автоматическая высокотемпературная вакуумная установка для выращивания слитков полупроводникового карбида кремния

Основные технические характеристики

Характеристики установки

Характеристика Значение
Мощность 50 кВт
Максимальная температура 2200 С
Вакуум 10-4 Па
Точность поддержания температуры 1 С
Точность поддержания давления газов 3 Па

Характеристики слитков карбида кремния

Характеристика Значение
Политип 4H
Диаметр до 100 мм
Плотность микропор <10 cм-2
Уровень легирования (азот) до 103 cм-2
Плотность дислокаций от 1017 до 1020 см-3

Правовая охрана

  • Патент на изобретение № 2405071 «Способ получения монокристаллического SiC».
  • Патент на изобретение №2603159 «Способ получения монокристаллического SiC»
  • Патент на изобретение № 2736814 «Способ получения монокристаллического SiC»
  • Евразийский патент на изобретение № 033855 «Способ подготовки тигля для выращивания монокристаллов карбида кремния»
  • Свидетельство о регистрации программы для ЭВМ № 2018666210 «Программа для управления и визуализации технологического процесса выращивания слитков

  Скачать информацию о разработке

Контакты

Центр трансфера технологий
+7 812 234-24-84
ctt@etu.ru