Образец с атомно-молекулярным калиброванным рельефом для коррекции измерений в нанодиагностике

Предназначен для определения линейных размеров высот в субнанометровом диапазоне

Области применения

Конкурентные преимущества

Высота ступеней является параметром кристаллической структуры, значение которого известно, поэтому искажения, связанные с взаимодействием других сил (ван-дер-ваальсовых, кулоновских и пр.), могут быть учтены

Стадия разработки

Изготовлен макет на основе теллурида свинца


Общий вид макета образца теллурида свинца с калиброванной высотой 0,375 нм и 0,75 нм

Основные технические характеристики

Калиброванные значения высот выступов на поверхности – 0,375 нм, 0,75 нм, 1,125нм, 1,5 нм, 1,875 нм


  Скачать информацию о разработке

Контакты

Центр трансфера технологий
+7 812 234-24-84
ctt@etu.ru