Предназначена для получения изображения поверхности объекта с высоким разрешением, а также информации о химическом составе поверхностного слоя
Сканирующий электронный микроскоп позволяет получать изображения поверхности объекта с высоким разрешением. Высокая разрешающая способность обеспечивается за счет использования сфокусированного потока электронов для построения изображения.
Биология, медицина, геология, материаловедение, промышленность, криминалистика
Разработка макета устройства
Макет электронного сканирующего микроскопа
| Характеристика | Значение |
|---|---|
| Ускоряющее напряжение | 15 кВ |
| Разрешение | до 1 мкм |
| Степень увеличения | до 1000х |
| Система детектирования | BSE-детектор, SE-детектор |
| Вакуумная система: | полностью автоматическая вакуумная система |
| Вес устройства | не более 150 кг |
| Габариты устройства | не более 700х500х800 мм |
Подана заявка на программу для ЭВМ «Программа управления макетом сканирующего электронного микроскопа («EMControl»)»
Скачать информацию о разработке
| Центр трансфера технологий | |
| Санкт-Петербург, ул. Профессора Попова, дом 5, корпус 5, пом. 5432 | |
| +7 812 234-24-84 | |
| ctt@etu.ru |
